El progreso de la investigación científica y el desarrollo de la tecnología depende en gran medida de las soluciones de imagen eficaz para caracterizar las propiedades y comportamientos de sus materiales. Revelar detalles de la microestructura, idealmente en tres dimensiones (3D), es una parte crítica de su comprensión, ya sea que su objetivo sea desarrollar y confirmar modelos que describan propiedades y comportamientos materiales o simplemente visualizar detalles estructurales.
El producto estrella de la galardonada familia Xradia Versa ofrece las capacidades de análisis y captura de imágenes 3D no destructivas más avanzadas y de mayor rendimiento. Xradia 520 Versa amplía los límites de la imagen 3D no destructiva con avanzadas capacidades de ajuste de contraste, amplias opciones de filtrado y mejor precisión y flujo de trabajo.
Basada en el galardonado diseño de su predecesora, Xradia 510 Versa es la base de la familia Xradia Versa para aquellos que necesitan la capacidad de imagen 3D más alta sin las características avanzadas y el rendimiento del producto estrella.
Xradia 410 Versa supera la brecha entre las soluciones de microscopía de rayos X 3D de alto rendimiento y los sistemas de tomografía computarizada (CT) basados en proyecciones tradicionalmente de menor costo y menos capaces. Las múltiples opciones de fuente proporcionan flexibilidad para crear imágenes de una amplia gama de tamaños y tipos de muestras.
Xradia 810 Ultra aumenta el rendimiento de imágenes de rayos X en nanoescala y tridimensional hasta un factor de 10. Este innovador microscopio de rayos X (XRM) funciona a 5.4 keV, una energía más baja que ofrece mejor contraste y calidad de imagen para el medio A muestras de baja Z y otros materiales utilizados en toda la ciencia y la industria.
La revolucionaria Xradia 800 Ultra combina una fuente de rayos X de laboratorio de alto flujo con una óptica de rayos X altamente especializada y patentada para crear un microscopio de rayos X de resolución ultra alta independiente para la tomografía computarizada, Como SEM, TEM o AFM, y microscopía óptica o micro-CT tradicional.
Las soluciones ZEISS Xradia Synchrotron llevan imágenes de rayos X a nanoescala a su instalación de sincrotrón, lo que le permite renunciar al costoso y demorado desarrollo interno. La óptica patentada de rayos X y una probada plataforma de microscopía de rayos X 3D aprovechan los rayos X, ultra-brillantes y sintonizables disponibles en modernas instalaciones de sincrotrón.